Optické metody
Na naší katedře jsou k dispozici dvě optické metody pro charakterizaci vzorků – spektroskopická elipsometrie a UV-Vis spektrofotometrie.
Spektroskopická elipsometrie je optická měřící metoda, která se používá pro charakterizaci tenkých vrstev. Tato metoda je založena na změně polarizace světla během odrazu od vzorku. Na základě naměřených dat následně můžeme určit některé parametry měřených vzorků (většinou tenkých vrstev) - například komplexní index lomu, tloušťku vrstvy, koeficient absorpce. Při použití kapalné cely je možné studovat i změny tenkých vrstev (botnání, rozpouštění) a adhezi biomolekul ve vodném prostředí. Námi používaný optický elipsometr M-2000DI (J. A. Woollam Co., Inc.) pracuje ve spektrálním rozsahu 192–1690 nm.
Druhým zařízením je UV-Vis spektrofotometr (Hitachi U-2900). Toto zařízení umožňuje určovat vlastností vzorku na základě pohlcování světla různých vlnových délek spektra procházející vzorkem. Touto metodou můžeme zjišťovat optické vlastnosti nanočástic, tenkých vrstev i vodných roztoků.
